EL INGENIERO ZOCCO PARTICIPÓ DE JORNADAS INTERNACIONALES “LOS DESAFÍOS METROLÓGICOS Y SUS PERSPECTIVAS PARA ARGENTINA
Autor: Lic. Claudia Bazán - Publicado: 12 de Diciembre de 2017
El Director del Laboratorio de Metrología (LAMET) ,perteneciente al Departamento Mecánica de la Facultad de Ingeniería-,fue invitado por el Ministerio de la Producción, Presidencia de la Nación y por el Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) a participar de estas importantes jornadas, en el año del 60° Aniversario institucional del INTI , en las que referentes de diversos organismos del mundo relacionados a la ciencia de las mediciones, la Metrología, compartieron su saber y su visión sobre los futuros desafíos metrológicos en la ciencia, la tecnología y la sociedad.
En este marco participó también de la celebración de los 50 años de camino recorrido por la cooperación técnica entre el Instituto Nacional de tecnología Industrial (INTI) y el Physikalisch Technische Bundesanstalt (PTB) Laboratorio Nacional de Metrología de Alemania.
El encuentro académico se realizó los pasados días 23 y 24 de Noviembre de 2017 en el Parque Tecnológico Miguelete (PTM), en Buenos Aires, Argentina, y durante su transcurso se promovieron el intercambio de experiencias a través de diferentes presentaciones y espacios de debate con los participantes.
En la primera jornada se tuvo la presentación del Dr Martin Milton, Director del Bureau Internacional de Pesas y Medidas (BIPM) sobre “La Convención del Metro y el futuro del Sistema Internacional de Unidades (SI)”, más tarde el Dr Stephen Patoray, Director del Bureau Internacional de Metrología Legal (BIML) (OIML), lo hizo sobre la importante temática de: “Desafíos futuros para la Metrología Legal”. Cabe destacar que el Dr Milton como el Dr Patoray son las actuales autoridades máximas de los organismos rectores de la Metrología a nivel mundial. En este mismo día disertó la Ing Claudia Santo, Directora de Metrología del Laboratorio tecnológico del Uruguay (LATU) y Presidente del Comité Técnico del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), hablo sobre “El Sistema Interamericano de Metrología (SIM) y el reconocimiento internacional de las mediciones”.
Por la tarde el Dr Joaquín Valdés, Decano el INCALIN (UNSAM-INTI) lo hizo sobre “ Las demandas metrológicas de la Cuarta Revolución Industrial”. Finalmente, y para cerrar esta primera jornada el Dr Carl Williams, Director del Laboratorio de mediciones Físicas del National Institute of Standars and Technology (NIST), USA lo hizo sobre “Tecnologías Cuánticas y el futuro de la Metrología”
La segunda jornada se inició con la importante presentación “Desarrollo de la Metrología en el INTI” y que estuvo a cargo del Dr Héctor Láiz, Presidente del Sistema Interamericano de Metrología, del Comité Internacional de Pesas y medidas (CIPM) y Gerente de Metrología Calidad y Ambiente del INTI donde se conocieron lo que se está haciendo en el INTI y el promisorio futuro para los próximos años, en este campo del conocimiento.
Fue seguido por la Conmemoración de los 50 años de cooperación técnica PTP-INTI donde se intercambiaron presentes y se repasó a través de imágenes estas 5 décadas de fructífera relación entre el INTI y el PTB.
El Ingeniero Zocco manifestó: “hay muchas cuestiones que nos cambiarán fundamentalmente el concepto de materializar las unidades fundamentales a través del uso de las constantes de la física que nos va a permitir materializar la unidad en cualquier lugar, basta poder reproducir el experimento sin necesidad de compararla con el patrón prototipo de París ,produciendo un importante impacto en el ámbito regulado, produciendo verdaderos desafíos tecnológicos en este campo de las mediciones, especialmente en el área de la Metrología legal en el Sistema Interamericano de metrología (SIM) y a nivel internacional, en la Metrología Científica y especialmente en el reconocimiento internacional de las mediciones. Estamos viviendo la 4° Revolución industrial”.
Agregó también que estamos en presencia de cambios metrológicos y en la aplicación de la Física Quántica a cuestiones industriales donde interviene la metrología.
El Director del LAMET expresó que en estos 2 días se pudo establecer el panorama a nivel mundial, regional y local, hacia dónde va la metrología y que no podemos permanecer ajenos a estos cambios de relevancia para todos los involucrados en esta ciencia (ingenieros, médicos, técnicos, etc.),que está presente transversalmente en todas las Ciencias, Tecnologías y actividades humanas con su trato científico, y que redundará en una mejor salud, un medio ambiente más cuidado y en una seguridad en todas las actividades humanas que nos permitan apuntar a alcanzar una vida con calidad , tanto a nivel individual, como social recordando fundamentalmente que SIN METROLOGÍA NO EXISTE LA CALIDAD.
